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動態(tài)激光干涉儀是一種高精度的光學(xué)測量儀器,主要用于測量光學(xué)元件的表面形貌、材料的熱膨脹系數(shù)、機(jī)械應(yīng)力場等。該儀器基于干涉原理,通過激光光束的干涉效應(yīng)來實(shí)現(xiàn)對被測對象的測量和分析。它廣泛應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)、科學(xué)研究、醫(yī)學(xué)診斷等領(lǐng)域,具有高精度、快...
晶圓水平儀是一種用于測量和調(diào)整晶圓表面平整度的重要設(shè)備,在半導(dǎo)體制造、光學(xué)元件生產(chǎn)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。以下是詳細(xì)的選購要點(diǎn)描述:1.精度要求-測量精度:晶圓水平儀的核心指標(biāo)是其測量精度。高精度的晶圓水平儀能夠提供更準(zhǔn)確的平整度數(shù)據(jù),對于半導(dǎo)體制造等對精度要求很高的領(lǐng)域尤為重要。在選擇時(shí),需要根據(jù)實(shí)際應(yīng)用場景確定所需的測量精度,并選擇滿足該精度要求的晶圓水平儀。-重復(fù)性:除了測量精度外,晶圓水平儀的重復(fù)性也是一個(gè)重要的考慮因素。良好的重復(fù)性意味著在多次測量中,晶圓水平儀能夠提...
在電子制造和材料科學(xué)領(lǐng)域,去膠技術(shù)是一個(gè)至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。隨著科技的進(jìn)步,等離子去膠和微波去膠作為兩種常見的去膠方法,各自具備特殊的優(yōu)勢與適用性。本文將探討這兩種技術(shù)的基本原理、優(yōu)缺點(diǎn)及其在實(shí)際應(yīng)用中的區(qū)別。一、基本原理1.等離子去膠:利用等離子體的化學(xué)活性來去除材料表面的膠粘劑。在這一過程中,氣體(通常是氬氣、氧氣或氮?dú)猓┍浑婋x形成等離子體,產(chǎn)生高能粒子和自由基。這些高能粒子能夠與膠粘劑分子發(fā)生反應(yīng),使其降解并有效去除。這種方法通常在低溫條件下進(jìn)行,因此對熱敏感材料的影響較小...
電容式位移傳感器是一種基于電容原理工作的精密測量儀器,廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)領(lǐng)域,如振動監(jiān)測、距離測量、液位檢測等。由于其高精度和快速響應(yīng)的特點(diǎn),電容式位移傳感器在校準(zhǔn)過程中需要特別細(xì)致和精確。以下是關(guān)于電容式位移傳感器的校準(zhǔn)方式的描述:一、校準(zhǔn)前的準(zhǔn)備工作1.了解傳感器規(guī)格:在開始校準(zhǔn)之前,首先需要詳細(xì)了解電容式位移傳感器的技術(shù)規(guī)格,包括測量范圍、靈敏度、線性度、重復(fù)性等關(guān)鍵參數(shù)。這些信息將有助于確定校準(zhǔn)的具體步驟和方法。2.準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)器具:為了進(jìn)行準(zhǔn)確的校準(zhǔn),需要準(zhǔn)備一些高精度...
大家也許還不是非常的清楚,光刻機(jī)的種類有非常的多,其中的技術(shù)原理也不盡相同,下面就由我來給大家簡單介紹一下有關(guān)接近式光刻機(jī)的使用原理及性能指標(biāo)。接近式光刻機(jī)的使用原理:其實(shí)在我國對于接近式光刻機(jī),曝光時(shí)掩模壓在光刻膠的襯底晶片上,其主要優(yōu)點(diǎn)是可以使用價(jià)格較低的設(shè)備制造出較小的特征尺寸。我們也許不知道接觸式光刻和深亞微米光源已經(jīng)達(dá)到了小于0.1gm的特征尺寸,常用的光源分辨率為0.5gm左右。該光刻機(jī)的掩模版包括了要復(fù)制到襯底上的所有芯片陣列圖形。在襯底上涂上光刻膠,并被安裝到...
光學(xué)粗糙度測試儀是一種用于測量材料表面粗糙度的精密儀器,其準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性對于保障產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要。以下是關(guān)于光學(xué)粗糙度測試儀養(yǎng)護(hù)方式的相關(guān)描述:1.環(huán)境要求:光學(xué)粗糙度測試儀應(yīng)放置在無塵、恒溫恒濕的環(huán)境中。溫度和濕度的波動會影響儀器的測量精度,因此應(yīng)盡量保持環(huán)境的穩(wěn)定。此外,儀器應(yīng)遠(yuǎn)離振動源和磁場,以防止對測量結(jié)果的干擾。2.清潔維護(hù):定期對儀器進(jìn)行清潔,特別是在測量過程中可能會有灰塵或雜質(zhì)附著在儀器的關(guān)鍵部件上。使用無塵布或?qū)S们鍧嵐ぞ撸p輕擦拭儀器的表面和鏡頭,以保持其清...