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動態(tài)激光干涉儀是一種高精度的光學(xué)測量儀器,主要用于測量光學(xué)元件的表面形貌、材料的熱膨脹系數(shù)、機械應(yīng)力場等。該儀器基于干涉原理,通過激光光束的干涉效應(yīng)來實現(xiàn)對被測對象的測量和分析。它廣泛應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)、科學(xué)研究、醫(yī)學(xué)診斷等領(lǐng)域,具有高精度、快...
在我們的生活當中,時常也會用到各種各種測量工具對一些數(shù)據(jù)進行測量,在工業(yè)生產(chǎn)領(lǐng)域當中,這種數(shù)據(jù)的測量和收集分析就更加普遍而且重要了。我們平時可能不怎么會去測量厚度,比如說紙張、薄膜的厚度、或者是物體表面涂層、鍍層的厚度。這些厚度數(shù)據(jù)的測量是十分困難,不采用專業(yè)的技術(shù)或者是設(shè)備是難以進行準確測量的?,F(xiàn)在有了一種叫做紅外激光測厚儀的設(shè)備以后,這些厚度數(shù)據(jù)的測量就變得簡單許多了。下面我們就一起看看它的系統(tǒng)、功能模塊和技術(shù)亮點都有哪些?紅外激光測厚儀軟件系統(tǒng)、功能模塊和技術(shù)亮點:1、...
翹曲度測量儀可以測量:熱沉,晶圓,太陽能電池和硅片翹曲度,應(yīng)力以及表面形貌。適合光伏電池翹曲度測量,太陽能電池翹曲度測量,晶圓翹曲度測量,硅片翹曲度測量,晶片翹曲度測量。翹曲度測量儀的作用:本產(chǎn)品適用于普通測量工具無法測量的領(lǐng)埔,如尺寸微小的鐘表、彈簧、橡膠、礦石珠寶、半導(dǎo)體、五金、模具、電子行業(yè)、精細加工、不規(guī)則工件等到進行測量。還可以繪制簡單的圖形,繪制測量畸形、復(fù)雜和零件重疊等不規(guī)則的工件,檢查零件的表面糙度和檢查復(fù)雜的電路板線路。翹曲度測量儀和塞尺測量的對比:1、塞尺...
FSM413紅外激光測厚儀是一款廣泛應(yīng)用于晶圓厚度測量的先進儀器。它采用紅外干涉(非接觸式)的測量方式。這種測量方式使得儀器能夠精確測量各種材料的厚度,特別是那些對紅外線透明的材料。此外,該儀器還可以測量有圖形、有膠帶、凸起或者鍵合在載體上的晶圓的襯底厚度。FSM413紅外激光測厚儀產(chǎn)品簡介:1、利紅外干涉測量技術(shù),非接觸式測量。2、適用于所有可讓紅外線通過的材料硅、藍寶石、砷化鎵、磷化銦、碳化硅、玻璃、石英、聚合物…FSM413紅外激光測厚儀規(guī)格:1、測量方式:紅外干涉(非...
光學(xué)厚度測量儀是一種可以檢測薄膜、金屬等材料厚度的儀器,而經(jīng)過厚度是否均勻,從而確定薄膜、金屬等材料的各項物理性能指標。因為這些材料如果厚度不一致,那么不僅會導(dǎo)致材料的拉伸強度受到破壞,阻隔性下降,還會為材料的后期加工帶來不利的影響。該測量儀只是檢測金屬、薄膜、板材、橡膠、紙張、塑料的質(zhì)量和性能的基本方法。它所測量的對象往往是一些對厚度有一定要求的材料,其中,包括了金屬箔片,而金屬箔片還包括了鋁箔、銅箔、錫箔等?,F(xiàn)在由于儀器的改進,厚度測試儀已經(jīng)漸漸成為確保各種材料能夠得到進...
美國FSM成立于1988年,總部位于圣何塞,多年來為半導(dǎo)體行業(yè)等高新行業(yè)提供各式精密的測量設(shè)備。美國FSM高溫薄膜應(yīng)力及翹曲度測量儀特殊功能優(yōu)點:1、*封閉的設(shè)計,溫度更穩(wěn)定。2、特殊的設(shè)計使震動偏移降到較低。3、圖形式使用界面更容易使用。4、當改變彈性模數(shù),晶圓或薄膜厚度設(shè)備會自動重新計算應(yīng)力保存數(shù)據(jù)文檔。5、可以計算雙軸彈性模量和線膨脹系數(shù)。6、可以計算應(yīng)力的均勻性。7、可以輸出數(shù)據(jù)到Excel,提供給SPC分析。8、多重導(dǎo)向銷設(shè)計,手動裝載樣品,有優(yōu)異的重復(fù)性與再現(xiàn)性研...