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動態(tài)激光干涉儀是一種高精度的光學測量儀器,主要用于測量光學元件的表面形貌、材料的熱膨脹系數(shù)、機械應力場等。該儀器基于干涉原理,通過激光光束的干涉效應來實現(xiàn)對被測對象的測量和分析。它廣泛應用于工業(yè)生產(chǎn)、科學研究、醫(yī)學診斷等領域,具有高精度、快...
激光測厚儀主要應用于鋰電池正、負極涂布,鋰電池正、負極輥壓的厚度和面密度測量。對于傳統(tǒng)涂布線,技術人員建議采用離線式激光測厚儀通過抽檢的方式折中地解決邊緣監(jiān)控問題;而對于新上的涂布線,推薦使用該設備放置于放卷后、涂布前,測量基材的厚度和面密度;也可以放置在烘箱后、收卷前,測量烘干極片的厚度和面密度。激光測厚儀設備與傳統(tǒng)設備最大的不同在于其光斑很小,不僅在極片中間區(qū)域表現(xiàn)良好,還能準確地監(jiān)控極片頭尾和左右的輪廓,避免削薄區(qū)和頭尾出現(xiàn)較大的面密度或厚度偏差而導致批量報廢。本產(chǎn)品主...
微納米尺度探針在高精度薄膜電阻測試中發(fā)揮著重要的作用。這種方法可以提供更準確和可靠的測量結果,為材料科學、電子器件制造等領域的研究和應用提供有價值的數(shù)據(jù)。傳統(tǒng)的薄膜電阻測試方法通常使用宏觀尺寸的探針或接觸頭進行測量,但這種方法存在一些局限性。例如,在微米甚至納米級別上進行精確測量時,無法避免與被測樣品之間發(fā)生非破壞性接觸,并且可能會受到外界因素(如表面粗糙度)影響。因此,利用微納米尺度探針來進行高精度薄膜電阻測試成為了一種新型解決方案。微納米尺度探針是由特殊材料制成并具有極細...
1.概述由于光刻的延遲和功率限制的綜合影響,制造商無法水平縮放,因此制造商正在垂直堆疊芯片設備,含三維集成技術。由于移動設備的激增推動了對更小電路尺寸的需求,這已變得至關重要,但這種轉(zhuǎn)變并不總是那么簡單。三維集成方案可以采用多種形式,具體取決于所需的互連密度。圖像傳感器和高密度存儲器可能需要將一個芯片直接堆疊在另一個芯片上,并通過硅通孔連接,而系統(tǒng)級封裝設計可能會將多個傳感器及其控制邏輯放在一個重新分配層上。2.業(yè)內(nèi)行情EVGroup業(yè)務發(fā)展總監(jiān)ThomasUhrmann認為...
為了制備高精度的薄膜電阻測試儀,并對其性能進行評估,可以按照以下步驟進行研究:1.設計和制備:首先,根據(jù)需求和目標設計并確定電阻測試儀的結構、尺寸和材料。然后,利用相應的加工方法(如機械加工、3D打印等)制造出所需組件或零部件。注意,在設計過程中要考慮到機械剛性、穩(wěn)定性以及與被測樣品接觸時的非破壞性。2.裝配和調(diào)試:將各個組件或零部件裝配在一起,并進行必要的調(diào)試。確保所有組件之間有良好的連接,并能夠正常運行。3.性能評估方法選擇:選擇適當?shù)姆椒▉碓u估薄膜電阻測試儀的性能。以下...
隨著柔性電子學領域的快速發(fā)展,對柔性有機半導體材料進行準確地電阻測試成為一個關鍵問題。傳統(tǒng)聯(lián)系式接觸方式往往會對材料產(chǎn)生損傷或干擾,而且無法對特定區(qū)域進行準確測量。因此,開發(fā)一種非破壞性、高精度的薄膜電阻測試儀具有重要意義。設計原理:本文提出了一種基于納米壓痕技術實現(xiàn)高精度電阻測試的方法。首先,在設計中考慮到納米級位移測量系統(tǒng)的需求,采用了高精度壓頭和位移傳感器。其次,在測試過程中,通過控制壓頭與樣品之間的接觸力,使得薄膜與導電底座緊密貼合,并保持穩(wěn)定的電阻值。最后,利用位移...